Přístrojové vybavení

Kombinovaný iontový a elektronový mikroskop Lyra3 GMU FIB-SEM Tescan

• detektory: SE, BSE, In-lens SE a BSE, STEM BF a DF, EDS, EBSD, EBIC, TOF-SIMS
• systém pro depozici vybraných prvků a vylepšené akviziční software pro: iontové litografie, FIB-SEM tomografie, EDS a EBSD analýzy a také pro TOF-SIMS analýzy

Přístroj umožňuje pořídit snímky povrchu s rozlišením až 1 nm při 15-30 keV, 3 nm při 1-5 keV a 3-5 nm při nízko-vakuovém módu (ESEM). Dle typu detekce lze sledovat topografii povrchu či materiálový kontrast, zjistit prvkové složení či krystalografické charakteristiky vzorku. Také je možné vytvářet mikro- a nano-strukturované matrice pomocí iontové litografie nebo provádět sériové FIB-SEM tomografie obojí pomocí dostupného software.

Obrázek:  Nalevo: příprava kompozitní membrány před FIB-SEM tomografií; napravo: krystal zeolitu SSZ-16.

Metalografická bruska Saphir 520 ATM

•  příslušenství:
  • motorizovaná hlava brusky s možností souhlasné i proti-běžné rotace unašeče vzorků
  • SiC brusné papíry, diamantové a Al2O3 leštící suspenze různých zrnitostí

Automatická bruska Saphir slouží k přípravě metalografických nábrusů, které pak lze pozorovat ve skenovacím elektronovém mikroskopu. Součástí příslušenství jsou i velmi jemné diamantové a aluminové suspenze, jejichž použití je nezbytné pro přípravu nábrusů se zrcadlově hladkých povrchem.

Permeační aparatura

•  příslušenství:
  • tlakové převodníky s různým rozsahem
  • software pro sběr dat

Permeační aparatura se dá využít k charakterizaci různých porézních systému jako například katalyzátorů, membrán či farmaceutických tablet. Sledování jedno   duchých transportních procesů probíhajících v těchto porézních systémech umožňuje stanovit geometrický faktor, efektivní průměr pórů a permeabilitu neboli efektivní kvadrát průměru pórů