Kombinovaný iontový a elektronový mikroskop Lyra3 GMU FIB-SEM Tescan
- detektory: SE, BSE, In-lens SE a BSE, STEM BF a DF, EDS, EBSD, EBIC, TOF-SIMS
- systém pro depozici vybraných prvků a vylepšené iontové odemílání – GIS s prekurzory Pt, W, Si a H2O
- akviziční software pro: iontové litografie, FIB-SEM tomografie, EDS a EBSD analýzy a také pro TOF-SIMS analýzy
Přístroj umožňuje pořídit snímky povrchu s rozlišením až 1 nm při 15-30 keV, 3 nm při 1-5 keV a 3-5 nm při nízko-vakuovém módu (ESEM). Dle typu detekce lze sledovat topografii povrchu či materiálový kontrast, zjistit prvkové složení či krystalografické charakteristiky vzorku. Také je možné vytvářet mikro- a nano-strukturované matrice pomocí iontové litografie nebo provádět sériové FIB-SEM tomografie obojí pomocí dostupného software.
Obrázek: Nalevo: příprava kompozitní membrány před FIB-SEM tomografií; napravo: krystal zeolitu SSZ-16.
Metalografická bruska Saphir 520 ATM
- příslušenství:
- motorizovaná hlava brusky s možností souhlasné i proti-běžné rotace unašeče vzorků
- SiC brusné papíry, diamantové a Al2O3 leštící suspenze různých zrnitostí
Automatická bruska Saphir slouží k přípravě metalografických nábrusů, které pak lze pozorovat ve skenovacím elektronovém mikroskopu. Součástí příslušenství jsou i velmi jemné diamantové a aluminové suspenze, jejichž použití je nezbytné pro přípravu nábrusů se zrcadlově hladkých povrchem.
Permeační aparatura
- příslušenství:
- tlakové převodníky s různým rozsahem
- software pro sběr dat
Permeační aparatura se dá využít k charakterizaci různých porézních systému jako například katalyzátorů, membrán či farmaceutických tablet. Sledování jedno duchých transportních procesů probíhajících v těchto porézních systémech umožňuje stanovit geometrický faktor, efektivní průměr pórů a permeabilitu neboli efektivní kvadrát průměru pórů